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v作为现成的测量解决方案，PD1500A可以对宽带隙半导体进行可靠且可重复的测量。 该平台不仅可以确保用户的安全性，还能够保护系统的测量硬件
v能够可靠、可重复测量宽带隙（SiC、GaN）功率半导体的动态特征
v测量的特征包括开启、关闭、开关切换、反向恢复、栅极电荷以及其他许多特征
v同时满足被测器件和用户对测试环境的要求
v模块化平台可扩展、可升级，能够对所有功率器件进行测试
v这种确保DPT结果可重复的能力依托于是德科技的专业测量技术， 例如在高频测试（GHz级）、低泄漏（飞安级）和脉冲功率（1,500 A电流、10 μs分辨率）等方面的创新。 这些创新使是德科技占据优势，可以有力地帮助您克服在动态功率半导体表征方面的挑战
vPD1500A采用的均是标准的测量技术，例如探头补偿、偏置调整、偏移校正和共模噪声抑制。 这些技术已在创新的测量拓扑和版图中使用。 另外，我们专门为本系统开发了半自动校准例程（AutoCal），用于校正系统增益和偏置误差。 该系统还使用去嵌入技术来补偿分流器中的电感寄生效应
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